糙面土工膜毛糙高度測定儀糙面土工膜厚度儀土工膜檢測使用說明
糙面土工膜毛糙高度測定儀
一，適用范圍
糙面土工膜毛糙高度測定儀依據(jù)GB/T17643-2011標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，主要適用于糙面土工膜試樣上用深度計測量膜面凸出處（峰）與凹陷處（谷）表面之間的高度差，對樣品在寬度方向上所有
有效點(diǎn)的測量值取平均值作為糙面土工膜的毛糙高度。
儀器：深度計一般由刻度盤指示器和測試臺組成。
a）、刻度盤指示器至少應(yīng)有2.5mm的量程，精確到±0.01mm。
b)、測試臺，一般包括定位塊和測針，測針上下移動的范圍不應(yīng)超過定位塊。定位塊的底部尺寸為50mm×20mm，測針直徑為1.3mm±0.1mm.
二、技術(shù)參數(shù)
1、測量里程：0-12.7mm
2、測量精度：0.01mm
3、測針直徑：1.3mm
4、定 位 塊： 50*20*15mm
5、外形尺寸：200×150×55mm
6、重 量：7.5KG
三、試驗步驟
1、按GB/T17643-2011規(guī)定的23℃±2標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境進(jìn)行，狀態(tài)調(diào)節(jié)時間不少于4h，并在該條件下進(jìn)行試驗。
2、測量前將深度計的指示器歸零。
3、將深度計測針置于糙面土工膜樣品的表面凹點(diǎn)并保持穩(wěn)定。
4、在刻度盤指示器上讀數(shù)和記錄，精確到0.01mm.
5、將深度計放置在下一個位置，重復(fù)測量過程。
6、沿樣品寬度方向按等間隔確定測量的位置點(diǎn)，至少測30點(diǎn)，始末兩個測量點(diǎn)距樣品邊緣應(yīng)不小于50mm.
四、檢驗報告
對刻度盤指示器上直接讀出的所有數(shù)據(jù)取平均值為毛糙高度值。
毛糙高度值的報告應(yīng)包括以下信息：
a）糙面土工膜試驗規(guī)格、類型和取樣方式，
b）試驗儀器的名稱和描述，
c ) 測量點(diǎn)尺寸，
d）試驗樣品尺寸
e）測量數(shù)據(jù)數(shù)量，
f )所有測量值的平均值。
g）樣品測量值得偏差，%
五、使用完畢清理表面，以備下次使用。
土工膜糙面厚度儀
一、土工膜糙面厚度儀適用范圍
YT1211型糙面土工膜厚度儀依據(jù)GB17643-2011標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測量，具有使用方便，測量精度高等優(yōu)點(diǎn)。
二、土工膜糙面厚度儀技術(shù)參數(shù)
1.測量里程：0-12.7mm
2.測量精度：0.01mm
3.同軸壓力：0.56N+0.05
4.外形尺寸：200*150*55mm
5.重量：7.5KG
三、土工膜糙面厚度儀【適用范圍】
糙面土工膜厚儀依據(jù)GB17643-2011標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測量，具有使用方便，測量精度高等優(yōu)點(diǎn)。
四、土工膜糙面厚度儀【試驗步驟】
在的標(biāo)準(zhǔn)實驗室環(huán)境條件下對狀態(tài)調(diào)節(jié)好的試樣進(jìn)行試驗。
通過對基點(diǎn)上的壓力點(diǎn)施加特定的力（沒有放置試樣），對測量尺進(jìn)行清零或者記錄初始的非零讀數(shù)。
升起壓力點(diǎn)并插入試樣。當(dāng)將壓力點(diǎn)慢慢地與試樣接觸時，調(diào)整試樣的位置以便測量器點(diǎn)位于糙面的突起之間的凹陷處的“低點(diǎn)"或“低谷"，獲得局部最小厚度讀數(shù)。重復(fù)以上步驟，每個試件一共獲得3個測量讀數(shù)。取3個讀數(shù)中的最小值作為該試樣的厚度，結(jié)果要求精度到0.025mm，測量時測量器需要在滿額靜載壓強(qiáng)條件下，靜置5s，然后按照測量器的精度記錄厚度值。
用所有試樣的結(jié)果計算樣品的平均厚度，記錄時精確到0.025mm.
五、試驗報告
報告平均厚度的如下信息：
a)工程項目，測試的土工膜的類型，抽樣方法。
b)用來測試厚度的設(shè)備名稱或相關(guān)描述。
c)測量器點(diǎn)的尺寸 （如果與這個標(biāo)準(zhǔn)不同的話）。
d)樣品和試樣的尺寸（如果與這個標(biāo)準(zhǔn)不同的話）。
e)加載間隔時間。
f)試樣的數(shù)量。
g)報告每一個試樣的厚度測量結(jié)果，精確到0.025mm。
h)報告所有測量結(jié)果的平均值，精確到0.025mm。
i)可用百分表形式表示樣品的單個測量結(jié)果的變化系數(shù)。
j)在測量過程中出現(xiàn)的任何異常的或者超出標(biāo)準(zhǔn)的情況。
k)在測量過程開始和結(jié)束的實驗環(huán)境條件。
